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薄膜测厚仪仪器特性

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　　薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
 
　　薄膜测厚仪根据其测量方式的不同，可分为：
 
　　接触式薄膜测厚仪：点接触式，面接触式。
 
　　非接触式薄膜测厚仪：射线，涡流，超声波，红外等。
 
　　薄膜测厚仪仪器特性：
 
　　1、配备微型打印机，快速打印每次测量结果及统计最大值、最小值、平均值。
 
　　2、标准量块标定,方便用户快速标定设备。
 
　　3、面板采用特铝材质，金属按键，操作灵敏、不易损坏。
 
　　4、核心控制部件采用意法公司32位多功能主板。
 
　　5、核心导向机构选用进口精密导轨。
 
　　6、仪器包含中英文界面，方便外籍客户的考察。
 
　　7、仪器表面采用静电喷涂工艺处理。
 
　　8、仪器配有水平检测装置。
 
　　9、仪器设计为台式机、运行平稳、噪音低。
 
　　10、仪器自动保存最多 500组测试结果，随时查看并打印。

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